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簡要描述：半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱特別適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導(dǎo)體電子器件材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動
產(chǎn)品型號AP-CJ廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家更新時間2025-09-17訪 問 量165產(chǎn)品分類
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| 品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區(qū)間 | 1萬-5萬 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,電子/電池,汽車及零部件,綜合 |
半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱適用于半導(dǎo)體電子器件做溫度破壞測試，主要測試半導(dǎo)體電子器件材料結(jié)構(gòu)在瞬間下經(jīng)溫及低溫的沖擊環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。本試驗箱根據(jù)試驗需求及測試標準分為三箱式和兩箱式，區(qū)別在于試驗方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室，蓄熱室和試驗室，產(chǎn)品在測試時是放置在試驗室。兩箱式分為高溫室和低溫室，是通過電機帶動提籃運動來實現(xiàn)高低溫的切換，產(chǎn)品放在提籃里，是隨提籃一起移動的。
愛佩半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱質(zhì)量優(yōu)勢：主要核心配件均采用國際的配件如法國泰康或德國比澤爾壓縮機，控制器有韓國三元、日本OYO、中國臺灣臺通供客戶選擇，繼電器有日本路宮、和泉、三菱、施耐德，美國杜邦環(huán)保冷媒，丹麥(DANFOSS)、瑞典（AlfaLaval）等配件，能確保冷熱沖擊試驗箱長期正常的運行。
半導(dǎo)體器件（semiconductor device）通常，這些半導(dǎo)體材料是硅、鍺或砷化鎵，可用作整流器、振蕩器、發(fā)光器、放大器、測光器等器材。為了與集成電路相區(qū)別，有時也稱為分立器件。絕大部分二端器件（即晶體二極管）的基本結(jié)構(gòu)是一個PN結(jié)。利用不同的半導(dǎo)體材料、采用不同的工藝和幾何結(jié)構(gòu)，已研制出種類多、功能用途各異的多種晶體二極，可用來產(chǎn)生、控制、接收、變換、放大信 號和進行能量轉(zhuǎn)換。晶體二極管的頻率覆蓋范圍可從低頻、高頻、微波、毫米波、紅外直至光波。三端器件一 般是有源器件，典型代表是各種晶體管（又稱晶體三極管）。
半導(dǎo)體電子器件冷熱沖擊試驗箱技術(shù)參數(shù)表：
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AP-CJ-80A AP-CJ-80B AP-CJ-80C | AP-CJ-150A AP-CJ-150B AP-CJ-150C | AP-CJ-250A AP-CJ-250B AP-CJ-250C | AP-CJ-1000A AP-CJ-1000B AP-CJ-1000C | ||||
標稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 250 | 300 | |||
試驗方式 | 氣動風(fēng)門切換2溫室或3溫室方式 | ||||||
性能 | 高溫室 | 預(yù)熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | ||||
升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤30分鐘 | ||||||
低溫室 | 預(yù)冷溫度范圍 | －75－0℃ | |||||
降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤30分鐘 | ||||||
試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | |||||
溫度范圍 | TSL:（+60→+150）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ | ||||||
溫度恢復(fù)時間※2 | 5分鐘以內(nèi) | ||||||
試樣擱架承載能力 | 30kg | ||||||
試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | |||
內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 700 | 1000 | ||
H | 400 | 500 | 600 | 1000 | |||
D | 400 | 500 | 600 | 1000 | |||
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